四探针测试仪
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HP-502型四探针探头
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格：
1 | te制之手握式探笔 |
2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 |
3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 |
4 | 探头使用寿命长 |
5 | 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格：
型号 | 曲率半径 | 压力 | 探针间距 | 探针排列 |
HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直线 |
HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直线 |
HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直线 |
HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直线 |
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