四探针测试仪
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SP-601型方形四探针探头
SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，zhuan用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格：
1 | te制之手握式探笔 |
2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 |
3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 |
4 | 探头使用寿命长 |
5 | 探针间距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
◆ SP-601型方形四探针探头规格：
型号 | 曲率半径 | 压力 | 探针间距 | 探针排列 |
SP-601 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 方形 |
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