LT-2型单晶少子寿命测试仪

 可测单晶少子寿命范围

 5μS～7000μS

 配备光源类型

 波长：1.09μm；余辉<1 μS；
   闪光频率为：20～30次／秒；
   闪光频率为：20～30次／秒；

 高频振荡源

 用石英谐振器，振荡频率：30MHz

 前置放大器

 放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz

 仪器测量重复误差

 <±20％

 测量方式

 采用对标准曲线读数方式

 仪器消耗功率

 <25W

 仪器工作条件

 温度： 10-35℃、 湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz

 可测单晶尺寸

 断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；
   纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；

 配用示波器

 频宽0—20MHz；
   电压灵敏：10mV／cm；