LP-701型四探针探头

LP-701型四探针探头

产品型号:LP-701型

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产品详情

LP-701型四探针探头

    LP-701型四探针探头(长把手设计)是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格:

1

 te制之长把手设计手握式探笔,把手长度14cm

2

 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

3

 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

4

 探头使用寿命长

5

 探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

 


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