ST2558B-F01型薄膜方阻直线四探针探头

ST2558B-F01型薄膜方阻直线四探针探头

一 、功能与结构特征概述

           ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针测试探头

     基本功能：ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头，直线2+2+2 mm针距,有球形尖镀金磷铜合金探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。

     基本组成：成套探头有可拆换式探针、探针座、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。

     配套与兼容：本探头兼容本公司suo有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。

        ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针探头适用产品部分型号及名称列表

二、主要技术参数及说明

    1 可测片料块料或棒料等。z小样品尺寸3mm×10mm，z大平面尺寸和厚度，由所配测试台决定，手持探头方式不限。

    2 .1探  针  间  距：直线2+2+2 mm针距。

    2.2探针机械游移率： ±0.5%。

    2.3探          针：镀金磷铜合金，Φ0.75mm。

    2.4压          力： 0～500g可调,额定压力约400g。

    3 探针为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用。

    4 本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到。

三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。